Sběr náboje polovodičovým pixelovým detektorem Timepix

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21670%2F08%3A15152325" target="_blank" >RIV/68407700:21670/08:15152325 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Charge Collection Characterization with Semiconductor Pixel Detector Timepix

Popis výsledku v původním jazyce

The charge sharing effect in pixel semiconductor detector is a theoretically well described phenomenon where the charge created by the particle spreads out during the charge collection process and it can be finally collected by several adjacent pixels forming a cluster. However, the experimental confirmation of models describing charge sharing has been little investigated and difficult to realize. The novel semiconductor pixel detector Timepix (256 x 256 square pixels with pitch 55 ?m) stands as a perfect tool to explore this effect. In the so-called Time-Over-Threshold mode, Timepix enables direct energy measurement in each pixel. This contribution shows the experimental results of probing charge collecting processes acquired with radiation sources and the Timepix detector. The cluster size dependencies on changing conditions such as bias voltage and temperature were measured and evaluated.

Název v anglickém jazyce

Charge Collection Characterization with Semiconductor Pixel Detector Timepix

Popis výsledku anglicky

The charge sharing effect in pixel semiconductor detector is a theoretically well described phenomenon where the charge created by the particle spreads out during the charge collection process and it can be finally collected by several adjacent pixels forming a cluster. However, the experimental confirmation of models describing charge sharing has been little investigated and difficult to realize. The novel semiconductor pixel detector Timepix (256 x 256 square pixels with pitch 55 ?m) stands as a perfect tool to explore this effect. In the so-called Time-Over-Threshold mode, Timepix enables direct energy measurement in each pixel. This contribution shows the experimental results of probing charge collecting processes acquired with radiation sources and the Timepix detector. The cluster size dependencies on changing conditions such as bias voltage and temperature were measured and evaluated.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BG - Jaderná, atomová a molekulová fyzika, urychlovače

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/LC06041" target="_blank" >LC06041: Příprava, modifikace a charakterizace materiálů energetickým zářením</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Conference Record of the 2008 IEEE NSS/MIC/RTSD

ISBN

978-1-4244-2715-4

ISSN

1082-3654

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

—

Název nakladatele

Omipress

Místo vydání

Wisconsin

Místo konání akce

Dresden

Datum konání akce

19. 10. 2008

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—