Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Dual shooting and evaluation of high-speed phenomena

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F70883521%3A28110%2F10%3A63509342" target="_blank" >RIV/70883521:28110/10:63509342 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Dual shooting and evaluation of high-speed phenomena

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The article describes the problem of dual shooting and evaluation of high-speed time varying phenomena using high-speed camera systems. It describes necessary steps for the preparation of shooting and how to set up the electronic shutter and also focuseson the processes of calibration and final evaluation of the high-speed phenomena. Dual shooting of high-speed phenomena is very modern while still remaining quite an unexplored field and is at present subject of a research at the Institute of ProductionEngineering ÚTB in Zlín. The published processes particularly for the Chip-Chunk test are brand new and at currently being patented in the Czech republic.

  • Název v anglickém jazyce

    Dual shooting and evaluation of high-speed phenomena

  • Popis výsledku anglicky

    The article describes the problem of dual shooting and evaluation of high-speed time varying phenomena using high-speed camera systems. It describes necessary steps for the preparation of shooting and how to set up the electronic shutter and also focuseson the processes of calibration and final evaluation of the high-speed phenomena. Dual shooting of high-speed phenomena is very modern while still remaining quite an unexplored field and is at present subject of a research at the Institute of ProductionEngineering ÚTB in Zlín. The published processes particularly for the Chip-Chunk test are brand new and at currently being patented in the Czech republic.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JP - Průmyslové procesy a zpracování

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2010

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    17th Symposium IMEKO

  • ISBN

    978-80-553-0424-3

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    1

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    Technická univerzita v Košiciach

  • Místo vydání

    Košice

  • Místo konání akce

    Košice

  • Datum konání akce

    1. 1. 2010

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    EUR - Evropská akce

  • Kód UT WoS článku