Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Visualization of the wear test of rubber materials

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F70883521%3A28110%2F11%3A43865239" target="_blank" >RIV/70883521:28110/11:43865239 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Visualization of the wear test of rubber materials

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The article describes the problem of dual shooting and evaluation of high-speed time varying phenomena using high-speed camera systems. It describes necessary steps for the preparation of shooting and how to set up the electronic shutter and also focuseson the processes of calibration and final evaluation of the high-speed phenomena. Dual shooting of high-speed phenomena is very modern while still remaining quite an unexplored field and is at present subject of a research at the Institute of ProductionEngineering ÚTB in Zlín. The published processes particularly for the Chip-Chunk test are brand new and at currently being patented in the Czech republic.

  • Název v anglickém jazyce

    Visualization of the wear test of rubber materials

  • Popis výsledku anglicky

    The article describes the problem of dual shooting and evaluation of high-speed time varying phenomena using high-speed camera systems. It describes necessary steps for the preparation of shooting and how to set up the electronic shutter and also focuseson the processes of calibration and final evaluation of the high-speed phenomena. Dual shooting of high-speed phenomena is very modern while still remaining quite an unexplored field and is at present subject of a research at the Institute of ProductionEngineering ÚTB in Zlín. The published processes particularly for the Chip-Chunk test are brand new and at currently being patented in the Czech republic.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    JP - Průmyslové procesy a zpracování

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/ED2.1.00%2F03.0089" target="_blank" >ED2.1.00/03.0089: Centrum bezpečnostních, informačních a pokročilých technologií (CEBIA-Tech)</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2011

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Chemické listy

  • ISSN

    0009-2770

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    105

  • Číslo periodika v rámci svazku

    15

  • Stát vydavatele periodika

    CZ - Česká republika

  • Počet stran výsledku

    3

  • Strana od-do

    290-292

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus