How Can V-I Characteristics Help in Counterfeit Component Detection

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F70883521%3A28140%2F11%3A43866651" target="_blank" >RIV/70883521:28140/11:43866651 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

How Can V-I Characteristics Help in Counterfeit Component Detection

Popis výsledku v původním jazyce

The electronic component V-I characteristics express a relationship between the current flowing via a chosen couple of pins, and the voltage applied on those pins. The applied voltage course follows a certain function like sinus, triangle or ramp betweensafe limits. The V-I characteristics of an individual component type can differ according to production technology, according to particular manufacturer, or according to the measurement conditions itself. The natural differences can be subsumed in the model component pin print which can be used for the comparative analysis aimed at discovering unnatural differences caused by improper treatment, failure or by the counterfeiting process. This paper illustrates a V-I characteristic based counterfeit detector application possibilities.

Název v anglickém jazyce

How Can V-I Characteristics Help in Counterfeit Component Detection

Popis výsledku anglicky

The electronic component V-I characteristics express a relationship between the current flowing via a chosen couple of pins, and the voltage applied on those pins. The applied voltage course follows a certain function like sinus, triangle or ramp betweensafe limits. The V-I characteristics of an individual component type can differ according to production technology, according to particular manufacturer, or according to the measurement conditions itself. The natural differences can be subsumed in the model component pin print which can be used for the comparative analysis aimed at discovering unnatural differences caused by improper treatment, failure or by the counterfeiting process. This paper illustrates a V-I characteristic based counterfeit detector application possibilities.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BC - Teorie a systémy řízení

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/ED2.1.00%2F03.0089" target="_blank" >ED2.1.00/03.0089: Centrum bezpečnostních, informačních a pokročilých technologií (CEBIA-Tech)</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2011

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Annals of DAAAM for 2011 & Proceedings of the 22nd International DAAAM Symposium "Intelligent Manufacturing & Automation: Power of Knowledge and Creativity"

ISBN

978-3-901509-83-4

ISSN

1726-9679

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

0057-0058

Název nakladatele

DAAAM International Vienna

Místo vydání

Vienna

Místo konání akce

Vienna

Datum konání akce

23. 11. 2011

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—