Zajímavý pomocný nástroj pro analýzu nepůvodních součástek

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F70883521%3A28140%2F14%3A43871456" target="_blank" >RIV/70883521:28140/14:43871456 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Zajímavý pomocný nástroj pro analýzu nepůvodních součástek
Popis výsledku v původním jazyce
Článek pojednává o diagnostických důvodech potřeby zpřístupnit čip již zapouzřené součástky. Jsou uvedeny přehledově technologie použité ke zpřístupnění čipu podle materiálu pouzdra. Článek prezentuje zkušenosti a výsledky z experimentů při použití vláknového laseru k selektivnímu odstranění plastových materiálů pouzdra. Je zmíněna také možnost využití sledování změn voltampérových charakteristik součástky v závislosti na případném destruktivním vlivu procesu ablace materiálu pouzdra.
Název v anglickém jazyce
An Interesting Optional Tool for Electronic Component Authenticity Evaluation
Popis výsledku anglicky
The article presents reasons for electronic component decapsulation. The decapsulation technologies overview compares briefly also costs and efficiency. The fiber laser decapsulation experiment results are presented with pictures nad commented experience. The curve tracing method AKA Analog Signature Analysis is mentioned and presented as a very efficient monitoring tool for laser ablation process pertinent damages.

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—

Projekt
<a href="/cs/project/ED2.1.00%2F03.0089" target="_blank" >ED2.1.00/03.0089: Centrum bezpečnostních, informačních a pokročilých technologií (CEBIA-Tech)</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění
2014
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)