Rizika a prevence použití nepůvodních polovodičových součástek
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F70883521%3A28140%2F17%3A63517428" target="_blank" >RIV/70883521:28140/17:63517428 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Rizika a prevence použití nepůvodních polovodičových součástek
Popis výsledku v původním jazyce
Článek přibližuje problematiku hrozby nepůvodních součástek v elektronických systémech všeobecně s důrazem na citlivé oblasti lékařské, vojenské a průmyslové aplikace. Přehledově jsou uvedeny metody používané k rozpoznání nepůvodních součástek na základě srovnání s referenční součástkou. Praktickými výsledky je ilustrována metoda porovnávání voltampérových charakteristik, rentgenové analýzy, ablace materiálu pouzdra nad čipem, skenovací elektronové mikroskopie i s přídavným modulem pro analýzu obsahu prvků. Zmíněny jsou i možnosti optických polarizačních a konfokálních mikroskopů. Pojednání uzavírá nástin možností rozvoje metod pro odhalování nepůvodních součástek.
Název v anglickém jazyce
Counterfeit Semiconductor Components Application Risk And Prevention
Popis výsledku anglicky
The article is giving inside into the problems and risk related to the application of counterfeit electronic components in electronic assemblies. That risk is very serious in sensitive application fields like medical electronics, military electronics, transport services and industry. The overview and classification of analytical methods is given together with particular devices like curve tracer, specialized W-ray equipment, laser decapsulation device, scanning electron microscope with chemical element analysing module and confocal microscope. Those analytical devices abilities are illustrated with real component results. The further extension of existing method is outlined as well.
Klasifikace
Druh
J<sub>ost</sub> - Ostatní články v recenzovaných periodicích
CEP obor
—
OECD FORD obor
20201 - Electrical and electronic engineering
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/LO1303" target="_blank" >LO1303: Podpora udržitelnosti a rozvoje Centra bezpečnostních, informačních a pokročilých technologií (CEBIA-Tech)</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2017
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Jemná mechanika a optika
ISSN
0447-6441
e-ISSN
—
Svazek periodika
62
Číslo periodika v rámci svazku
3/2017
Stát vydavatele periodika
CZ - Česká republika
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
87-90
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—