Advanced microscopic techniques used for integrated circuits authenticity analysis

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F70883521%3A28140%2F18%3A63520712" target="_blank" >RIV/70883521:28140/18:63520712 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1742-6596/1065/10/102015/pdf" target="_blank" >https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1742-6596/1065/10/102015/pdf</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/1065/10/102015" target="_blank" >10.1088/1742-6596/1065/10/102015</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Advanced microscopic techniques used for integrated circuits authenticity analysis

Popis výsledku v původním jazyce

Many electronic systems used in industry or other special areas are put at risk by counterfeit electronic components occurrence, especially by semiconductors. These counterfeit components represent a serious threat for systems functionality and reliability. We can take as a fraudulent or as a suspicious component any component of unknown origin, which we can find any difference in contrast to the original manufacturer component of the same model. This article describes advanced microscopic techniques used in problems with counterfeit integrated circuits. Their genuineness evaluation ability is discussed and illustrated with several microscopic images.

Název v anglickém jazyce

Advanced microscopic techniques used for integrated circuits authenticity analysis

Popis výsledku anglicky

Many electronic systems used in industry or other special areas are put at risk by counterfeit electronic components occurrence, especially by semiconductors. These counterfeit components represent a serious threat for systems functionality and reliability. We can take as a fraudulent or as a suspicious component any component of unknown origin, which we can find any difference in contrast to the original manufacturer component of the same model. This article describes advanced microscopic techniques used in problems with counterfeit integrated circuits. Their genuineness evaluation ability is discussed and illustrated with several microscopic images.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

—

OECD FORD obor

20201 - Electrical and electronic engineering

Projekt

<a href="/cs/project/LO1303" target="_blank" >LO1303: Podpora udržitelnosti a rozvoje Centra bezpečnostních, informačních a pokročilých technologií (CEBIA-Tech)</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2018

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Journal of Physics: Conference Series

ISBN

—

ISSN

1742-6588

e-ISSN

neuvedeno

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

"nestrankovano"

Název nakladatele

Institute of Physics Publishing Ltd.

Místo vydání

Bristol

Místo konání akce

Belfast

Datum konání akce

3. 9. 2018

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—