Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Výzkum detekčních systémů pravých sekundárních elektronů v nově koncipovaném environmentálním rastrovacím elektronovém mikroskopu

Veřejná podpora

  • Poskytovatel

    Grantová agentura České republiky

  • Program

    Standardní projekty

  • Veřejná soutěž

    Standardní projekty 8 (SGA02005GA-ST)

  • Hlavní účastníci

  • Druh soutěže

    VS - Veřejná soutěž

  • Číslo smlouvy

    102/05/0886

Alternativní jazyk

  • Název projektu anglicky

    Investigation of the true secondary electrons detection systems in the newly conceived environmental scanning electron microscope

  • Anotace anglicky

    Environmental scanning electron microscopy (ESEM) belongs to the last trends of microscopic methods. It enables working in the specimen chamber with pressures higher than in a standard SEM (approx. 103Pa in comparison with 10-3Pa) and observation of specimens in their natural wet state without previous preparation. A number of problems connected with this methodology has been solved, nevertheless, several imperfections are not finished yet. The project deals with one of them - detection of true secondary electrons using a way totally suppressing the influence of undesirable backscattered electrons. The principle of the detection is the exhaust of secondary electrons from the specimen placed in the environment of high pressure of gas to the environmentof high vacuum, in which the scintillator with high electrode potential is placed. The secondary electrons are exhausted using the low electrostatic field to the space of two chambers with differentially pumped pressure of gas. These chambers

Vědní obory

  • Kategorie VaV

    ZV - Základní výzkum

  • CEP - hlavní obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • CEP - vedlejší obor

    BH - Optika, masery a lasery

  • CEP - další vedlejší obor

    JI - Kompositní materiály

  • OECD FORD - odpovídající obory <br>(dle <a href="http://www.vyzkum.cz/storage/att/E6EF7938F0E854BAE520AC119FB22E8D/Prevodnik_oboru_Frascati.pdf">převodníku</a>)

    10306 - Optics (including laser optics and quantum optics)<br>20201 - Electrical and electronic engineering<br>20505 - Composites (including laminates, reinforced plastics, cermets, combined natural and synthetic fibre fabrics; filled composites)

Hodnocení dokončeného projektu

  • Hodnocení poskytovatelem

    U - Uspěl podle zadání (s publikovanými či patentovanými výsledky atd.)

  • Zhodnocení výsledků projektu

    Řešení projektu přineslo nové poznatky v oblasti detekce sekundárních elektronů v environmentální rastrovací elektronové mikroskopii (EREM), a to jak scintilačně fotonásobičovým detektorem sekundárních elektronů, tak ionizačním a segmentovým ionizačním d

Termíny řešení

  • Zahájení řešení

    1. 1. 2005

  • Ukončení řešení

    31. 12. 2007

  • Poslední stav řešení

    U - Ukončený projekt

  • Poslední uvolnění podpory

    2. 5. 2007

Dodání dat do CEP

  • Důvěrnost údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

  • Systémové označení dodávky dat

    CEP08-GA0-GA-U/04:3

  • Datum dodání záznamu

    16. 12. 2008

Finance

  • Celkové uznané náklady

    3 485 tis. Kč

  • Výše podpory ze státního rozpočtu

    3 485 tis. Kč

  • Ostatní veřejné zdroje financování

    0 tis. Kč

  • Neveřejné tuz. a zahr. zdroje finan.

    0 tis. Kč