Design and calibration of a compact quasi-optical system for material characterization in millimeter/sub-millimeter wave domain

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00177016%3A_____%2F14%3A%230000910" target="_blank" >RIV/00177016:_____/14:#0000910 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?arnumber=6898469" target="_blank" >http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?arnumber=6898469</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1109/CPEM.2014.6898469" target="_blank" >10.1109/CPEM.2014.6898469</a>

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Design and calibration of a compact quasi-optical system for material characterization in millimeter/sub-millimeter wave domain
Popis výsledku v původním jazyce
A compact spectrometer setup based on conventional rectangular horn antennas and two symmetrical parabolic mirrors is designed to provide a plane wave on the material-under-test. A commercial Vector Network Analyzer (VNA) and waveguide frequency extension units are used to measure the scattering parameters. A simple practical calibration process is used to determine the S-parameters on the material surface without need of high-cost micrometer positioners. Several materials are measured and the complex permittivity is presented.
Název v anglickém jazyce
Design and calibration of a compact quasi-optical system for material characterization in millimeter/sub-millimeter wave domain
Popis výsledku anglicky
A compact spectrometer setup based on conventional rectangular horn antennas and two symmetrical parabolic mirrors is designed to provide a plane wave on the material-under-test. A commercial Vector Network Analyzer (VNA) and waveguide frequency extension units are used to measure the scattering parameters. A simple practical calibration process is used to determine the S-parameters on the material surface without need of high-cost micrometer positioners. Several materials are measured and the complex permittivity is presented.

Projekt
<a href="/cs/project/7AX13009" target="_blank" >7AX13009: Microwave and terahertz metrology for homeland security</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění
2014
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2014)
ISBN
978-1-4799-2478-3
ISSN
0589-1485
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
482-483
Název nakladatele
IEEE
Místo vydání
—
Místo konání akce
Rio de Janeiro, Brazil
Datum konání akce
1. 1. 2014
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—

Podobné výsledky(10)