Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Flexible structured illumination microscope with a programmable illumination array

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11110%2F12%3A12776" target="_blank" >RIV/00216208:11110/12:12776 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://www.opticsinfobase.org/oe/abstract.cfm?uri=oe-20-22-24585" target="_blank" >http://www.opticsinfobase.org/oe/abstract.cfm?uri=oe-20-22-24585</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Flexible structured illumination microscope with a programmable illumination array

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Structured illumination microscopy (SIM) has grown into a family of methods which achieve optical sectioning, resolution beyond the Abbe limit, or a combination of both effects in optical microscopy.SIM techniques rely on illumination of a sample with patterns of light which must be shifted between each acquired image. The patterns are typically created with physical gratings or masks, and the final optically sectioned or high resolution image is obtained computationally after data acquisition. We useda flexible, high speed ferroelectric liquid crystal microdisplay for definition of the illumination pattern coupled with widefield detection. Focusing on optical sectioning, we developed a unique and highly accurate calibration approach which allowed usto determine a mathematical model describing the mapping of the illumination pattern from the microdisplay to the camera sensor. This is important for higher performance image processing methods such as scaled subtraction of the out of fo

  • Název v anglickém jazyce

    Flexible structured illumination microscope with a programmable illumination array

  • Popis výsledku anglicky

    Structured illumination microscopy (SIM) has grown into a family of methods which achieve optical sectioning, resolution beyond the Abbe limit, or a combination of both effects in optical microscopy.SIM techniques rely on illumination of a sample with patterns of light which must be shifted between each acquired image. The patterns are typically created with physical gratings or masks, and the final optically sectioned or high resolution image is obtained computationally after data acquisition. We useda flexible, high speed ferroelectric liquid crystal microdisplay for definition of the illumination pattern coupled with widefield detection. Focusing on optical sectioning, we developed a unique and highly accurate calibration approach which allowed usto determine a mathematical model describing the mapping of the illumination pattern from the microdisplay to the camera sensor. This is important for higher performance image processing methods such as scaled subtraction of the out of fo

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    EA - Morfologické obory a cytologie

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2012

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Optics Express

  • ISSN

    1094-4087

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    20

  • Číslo periodika v rámci svazku

    22

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    15

  • Strana od-do

    24585-24599

  • Kód UT WoS článku

    000310443400050

  • EID výsledku v databázi Scopus