Three-dimensional super-resolution structured illumination microscopy with maximum a posteriori probability image estimation
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11110%2F14%3A10285731" target="_blank" >RIV/00216208:11110/14:10285731 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/68407700:21230/14:00221810 RIV/00216208:11320/14:10285731
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1364/OE.22.029805" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1364/OE.22.029805</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1364/OE.22.029805" target="_blank" >10.1364/OE.22.029805</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Three-dimensional super-resolution structured illumination microscopy with maximum a posteriori probability image estimation
Popis výsledku v původním jazyce
We introduce and demonstrate a new high performance image reconstruction method for super-resolution structured illumination microscopy based on maximum a posteriori probability estimation (MAP-SIM). Imaging performance is demonstrated on a variety of fluorescent samples of different thickness, labeling density and noise levels. The method provides good suppression of out of focus light, improves spatial resolution, and allows reconstruction of both 2D and 3D images of cells even in the case of weak signals. The method can be used to process both optical sectioning and super-resolution structured illumination microscopy data to create high quality super-resolution images.
Název v anglickém jazyce
Three-dimensional super-resolution structured illumination microscopy with maximum a posteriori probability image estimation
Popis výsledku anglicky
We introduce and demonstrate a new high performance image reconstruction method for super-resolution structured illumination microscopy based on maximum a posteriori probability estimation (MAP-SIM). Imaging performance is demonstrated on a variety of fluorescent samples of different thickness, labeling density and noise levels. The method provides good suppression of out of focus light, improves spatial resolution, and allows reconstruction of both 2D and 3D images of cells even in the case of weak signals. The method can be used to process both optical sectioning and super-resolution structured illumination microscopy data to create high quality super-resolution images.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BH - Optika, masery a lasery
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2014
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Optics Express
ISSN
1094-4087
e-ISSN
—
Svazek periodika
22
Číslo periodika v rámci svazku
24
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
13
Strana od-do
29805-29817
Kód UT WoS článku
000345770500048
EID výsledku v databázi Scopus
—