X-ray Diffraction and X-ray Reflectivity Applied to Investigation of Thin Film

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F01%3A00105169" target="_blank" >RIV/00216208:11320/01:00105169 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

X-ray Diffraction and X-ray Reflectivity Applied to Investigation of Thin Film

Popis výsledku v původním jazyce

X-ray Diffraction and X-ray Reflectivity Applied to Investigation of Thin Film

Název v anglickém jazyce

X-ray Diffraction and X-ray Reflectivity Applied to Investigation of Thin Film

Popis výsledku anglicky

X-ray Diffraction and X-ray Reflectivity Applied to Investigation of Thin Film

Druh

C - Kapitola v odborné knize

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2001

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název knihy nebo sborníku

Advances in Solid State Physics

ISBN

—

Počet stran výsledku

14

Strana od-do

273-286

Počet stran knihy

—

Název nakladatele

B.Kramer

Místo vydání

Heidelberg, New York

Kód UT WoS kapitoly

—