X-ray diffraction and X-ray reflectivity applied to investigation of thin films
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F01%3A00105471" target="_blank" >RIV/00216208:11320/01:00105471 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
X-ray diffraction and X-ray reflectivity applied to investigation of thin films
Popis výsledku v původním jazyce
X-ray diffraction and X-ray reflectivity applied to investigation of thin films
Název v anglickém jazyce
X-ray diffraction and X-ray reflectivity applied to investigation of thin films
Popis výsledku anglicky
X-ray diffraction and X-ray reflectivity applied to investigation of thin films
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2001
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology
ISSN
1211-5894
e-ISSN
—
Svazek periodika
8
Číslo periodika v rámci svazku
1a
Stát vydavatele periodika
CZ - Česká republika
Počet stran výsledku
1
Strana od-do
4-4
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—