Spektroskopická elipsometrie na mřížkách se sinusoidálním reliefem povrchu

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F05%3A00001111" target="_blank" >RIV/00216208:11320/05:00001111 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/00177016:_____/05:#0000329
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Spectroscopic ellipsometry on sinusoidal surface-relief gratings
Popis výsledku v původním jazyce
Spectroscopic ellipsometry (SE) is used to study a sinusoidal-relief grating fabricated on a surface of transparent polymer. An optically thick polymer layer is situated on a glass substrate and its refraction index is optically matched to the index of the glass. The rigorous coupled wave analysis, implemented as the Airy-like internal reflection series, is applied to calculate the optical response of the relief grating.
Název v anglickém jazyce
Spectroscopic ellipsometry on sinusoidal surface-relief gratings
Popis výsledku anglicky
Spectroscopic ellipsometry (SE) is used to study a sinusoidal-relief grating fabricated on a surface of transparent polymer. An optically thick polymer layer is situated on a glass substrate and its refraction index is optically matched to the index of the glass. The rigorous coupled wave analysis, implemented as the Airy-like internal reflection series, is applied to calculate the optical response of the relief grating.

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—

Projekt
<a href="/cs/project/GA202%2F03%2F0776" target="_blank" >GA202/03/0776: Magnetooptické jevy v magnetických nanostrukturách</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2005
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)