Defect studies of ZnO films prepared by pulsed laser deposition on various substrates

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F13%3A10189491" target="_blank" >RIV/00216208:11320/13:10189491 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/68378271:_____/13:00398548

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/443/1/012018" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/443/1/012018</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/443/1/012018" target="_blank" >10.1088/1742-6596/443/1/012018</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Defect studies of ZnO films prepared by pulsed laser deposition on various substrates

Popis výsledku v původním jazyce

ZnO thin films deposited on various substrates were characterized by slow positron implantation spectroscopy (SPIS) combined with X-ray diffraction (XRD). All films studied exhibit wurtzite structure and crystallite size 20-100 nm. The mosaic spread of crystallites is relatively small for the films grown on single crystalline substrates while it is substantial for the film grown on amorphous substrate. SPIS investigations revealed that ZnO films deposited on single crystalline substrates exhibit significantly higher density of defects than the film deposited on amorphous substrate. This is most probably due to a higher density of misfit dislocations, which compensate for the lattice mismatch between the film and the substrate.

Název v anglickém jazyce

Defect studies of ZnO films prepared by pulsed laser deposition on various substrates

Popis výsledku anglicky

ZnO thin films deposited on various substrates were characterized by slow positron implantation spectroscopy (SPIS) combined with X-ray diffraction (XRD). All films studied exhibit wurtzite structure and crystallite size 20-100 nm. The mosaic spread of crystallites is relatively small for the films grown on single crystalline substrates while it is substantial for the film grown on amorphous substrate. SPIS investigations revealed that ZnO films deposited on single crystalline substrates exhibit significantly higher density of defects than the film deposited on amorphous substrate. This is most probably due to a higher density of misfit dislocations, which compensate for the lattice mismatch between the film and the substrate.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JJ - Ostatní materiály

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2013

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Journal of Physics: Conference Series

ISBN

—

ISSN

1742-6588

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

—

Název nakladatele

IOP PUBLISHING LTD

Místo vydání

BRISTOL

Místo konání akce

Bristol

Datum konání akce

19. 8. 2012

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

000321739400018