A method to extract pure Raman spectrum of epitaxial graphene on SiC

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F13%3A10190025" target="_blank" >RIV/00216208:11320/13:10190025 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4830374" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1063/1.4830374</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4830374" target="_blank" >10.1063/1.4830374</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

A method to extract pure Raman spectrum of epitaxial graphene on SiC

Popis výsledku v původním jazyce

The Raman spectrum of epitaxial graphene on SiC is generally obtained by simply subtracting a SiC spectra from the experimental data, which results in noisy spectrum and negative intensity. By using a Non-negative Matrix Factorization (NMF) method, we obtain pure graphene spectra, even for monolayer graphene and sub-micron size patterned features, as well as in spatial mapping and depth profile. We show that the NMF method is efficient in data smoothing and for signal deconvolution with no assumption required for the functional form of the signals.

Název v anglickém jazyce

A method to extract pure Raman spectrum of epitaxial graphene on SiC

Popis výsledku anglicky

The Raman spectrum of epitaxial graphene on SiC is generally obtained by simply subtracting a SiC spectra from the experimental data, which results in noisy spectrum and negative intensity. By using a Non-negative Matrix Factorization (NMF) method, we obtain pure graphene spectra, even for monolayer graphene and sub-micron size patterned features, as well as in spatial mapping and depth profile. We show that the NMF method is efficient in data smoothing and for signal deconvolution with no assumption required for the functional form of the signals.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2013

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Applied Physics Letters

ISSN

0003-6951

e-ISSN

—

Svazek periodika

103

Číslo periodika v rámci svazku

20

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

1-5

Kód UT WoS článku

000327818700038

EID výsledku v databázi Scopus

—