Depth profiling of ultra-thin alumina layers grown on Co(0001)

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F13%3A10192057" target="_blank" >RIV/00216208:11320/13:10192057 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1088/0953-8984/25/9/095004" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1088/0953-8984/25/9/095004</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1088/0953-8984/25/9/095004" target="_blank" >10.1088/0953-8984/25/9/095004</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Depth profiling of ultra-thin alumina layers grown on Co(0001)

Popis výsledku v původním jazyce

Epitaxial thin oxide layers were grown by simultaneous aluminum deposition and oxidation on a Co(0001) single crystal, and the metal-oxide interface between the substrate and the grown layer was studied using photoelectron spectroscopy. The oxide layerswere composed of two kinds of chemically different layers. Angle-resolved measurements were used to determine the compositions of oxide sub-layers and to reveal their respective thicknesses. The topmost oxide layers were up to 0.23 nm thick, determined by analysis of O 1s and Co 2p(3/2) photoelectron spectra. The results of the analysis show that the interface layer is composed of a mixture of oxygen and cobalt atoms and its thickness is approximately 0.6 nm. The analysis of Co 2p(3/2), Al 2p(3/2) and O1s core level binding energies confirmed the presence of CoO in the interface layer and Al2O3 in the topmost oxide layer.

Název v anglickém jazyce

Depth profiling of ultra-thin alumina layers grown on Co(0001)

Popis výsledku anglicky

Epitaxial thin oxide layers were grown by simultaneous aluminum deposition and oxidation on a Co(0001) single crystal, and the metal-oxide interface between the substrate and the grown layer was studied using photoelectron spectroscopy. The oxide layerswere composed of two kinds of chemically different layers. Angle-resolved measurements were used to determine the compositions of oxide sub-layers and to reveal their respective thicknesses. The topmost oxide layers were up to 0.23 nm thick, determined by analysis of O 1s and Co 2p(3/2) photoelectron spectra. The results of the analysis show that the interface layer is composed of a mixture of oxygen and cobalt atoms and its thickness is approximately 0.6 nm. The analysis of Co 2p(3/2), Al 2p(3/2) and O1s core level binding energies confirmed the presence of CoO in the interface layer and Al2O3 in the topmost oxide layer.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2013

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal of Physics Condensed Matter

ISSN

0953-8984

e-ISSN

—

Svazek periodika

25

Číslo periodika v rámci svazku

9

Stát vydavatele periodika

GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

Počet stran výsledku

8

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

000314823600013

EID výsledku v databázi Scopus

—