Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Influence of Latent Heat on the Shape of Temperature Profile for Different Types of Solder Alloys

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F16%3A10328839" target="_blank" >RIV/00216208:11320/16:10328839 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/68407700:21230/16:00303325

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/ISSE.2016.7563191" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1109/ISSE.2016.7563191</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/ISSE.2016.7563191" target="_blank" >10.1109/ISSE.2016.7563191</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Influence of Latent Heat on the Shape of Temperature Profile for Different Types of Solder Alloys

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Temperature profile is a very important parameter which has a high impact on reliability issues in electronic assembly manufacturing. The wrong shape of temperature profile (temperature/cooling gradients, maximum temperature, preheat together with flux activation) can lead to issues like flux/solder spattering, pad cratering, unwetting, excessive interrmetallic growth, tombstone effect shrinkage etc. This article deals with influence of latent heat on the shape of temperature profile, which starts to be more attractive due to higher integrity of electronics equipment. The experiments were based of two lead-free solder alloys (Sn96.5Ag3.5, Sn96.5Ag3Cu0.5), which were remelted on the copper pads in continual convection furnace. The temperature profile, were measured directly under the copper pads. Results shows, that the measured temperature profiles under soldering pads differs against the temperature profile which were measured on the PCB. Additionally the temperature profiles which were measured under soldering pads differ according to used solder alloys as well.

  • Název v anglickém jazyce

    Influence of Latent Heat on the Shape of Temperature Profile for Different Types of Solder Alloys

  • Popis výsledku anglicky

    Temperature profile is a very important parameter which has a high impact on reliability issues in electronic assembly manufacturing. The wrong shape of temperature profile (temperature/cooling gradients, maximum temperature, preheat together with flux activation) can lead to issues like flux/solder spattering, pad cratering, unwetting, excessive interrmetallic growth, tombstone effect shrinkage etc. This article deals with influence of latent heat on the shape of temperature profile, which starts to be more attractive due to higher integrity of electronics equipment. The experiments were based of two lead-free solder alloys (Sn96.5Ag3.5, Sn96.5Ag3Cu0.5), which were remelted on the copper pads in continual convection furnace. The temperature profile, were measured directly under the copper pads. Results shows, that the measured temperature profiles under soldering pads differs against the temperature profile which were measured on the PCB. Additionally the temperature profiles which were measured under soldering pads differ according to used solder alloys as well.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/LM2011025" target="_blank" >LM2011025: LMNT - Laboratoře magnetizmu a nízkých teplot - provoz a rozvoj národní výzkumné infrastruktury</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2016

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    2016 39TH INTERNATIONAL SPRING SEMINAR ON ELECTRONICS TECHNOLOGY (ISSE)

  • ISBN

    978-1-5090-1389-0

  • ISSN

    2161-2536

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    214-217

  • Název nakladatele

    IEEE

  • Místo vydání

    NEW YORK

  • Místo konání akce

    Pilsen

  • Datum konání akce

    18. 5. 2016

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000387089800042