Diffuse X-ray scattering from local chemical inhomogeneities in InGaN layers

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F18%3A10379317" target="_blank" >RIV/00216208:11320/18:10379317 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/00216224:14310/18:00106421

Výsledek na webu

<a href="https://doi.org/10.1107/S1600576718007173" target="_blank" >https://doi.org/10.1107/S1600576718007173</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1107/S1600576718007173" target="_blank" >10.1107/S1600576718007173</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Diffuse X-ray scattering from local chemical inhomogeneities in InGaN layers

Popis výsledku v původním jazyce

Diffuse X-ray scattering from random chemical inhomogeneities in epitaxial layers of InGaN/GaN was simulated using linear elasticity theory and kinematical X-ray diffraction. The simulation results show the possibility of determining the r.m.s. deviations of the local In content and its lateral correlation length from reciprocal-space maps of the scattered intensity. The reciprocal-space distribution of the intensity scattered from inhomogeneities is typical and it can be distinguished from other sources of diffuse scattering such as threading or misfit dislocations.

Název v anglickém jazyce

Diffuse X-ray scattering from local chemical inhomogeneities in InGaN layers

Popis výsledku anglicky

Diffuse X-ray scattering from random chemical inhomogeneities in epitaxial layers of InGaN/GaN was simulated using linear elasticity theory and kinematical X-ray diffraction. The simulation results show the possibility of determining the r.m.s. deviations of the local In content and its lateral correlation length from reciprocal-space maps of the scattered intensity. The reciprocal-space distribution of the intensity scattered from inhomogeneities is typical and it can be distinguished from other sources of diffuse scattering such as threading or misfit dislocations.

Druh

J_imp - Článek v periodiku v databázi Web of Science

CEP obor

—

OECD FORD obor

10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2018

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal of Applied Crystallography [online]

ISSN

1600-5767

e-ISSN

—

Svazek periodika

51

Číslo periodika v rámci svazku

Leden

Stát vydavatele periodika

JP - Japonsko

Počet stran výsledku

13

Strana od-do

969-981

Kód UT WoS článku

000440411700001

EID výsledku v databázi Scopus

2-s2.0-85051067191