Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Morphological, optical and photovoltaic characteristics of MoSe2/SiOx/Si heterojunctions

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F20%3A10423242" target="_blank" >RIV/00216208:11320/20:10423242 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="https://verso.is.cuni.cz/pub/verso.fpl?fname=obd_publikace_handle&handle=d7vqz2XXST" target="_blank" >https://verso.is.cuni.cz/pub/verso.fpl?fname=obd_publikace_handle&handle=d7vqz2XXST</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1038/s41598-020-58164-7" target="_blank" >10.1038/s41598-020-58164-7</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Morphological, optical and photovoltaic characteristics of MoSe2/SiOx/Si heterojunctions

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This work reports the effect of different processing parameters on the structural and morphological characteristics of MoSe2 layers grown by chemical vapour deposition (CVD), using MoO3 and Se powders as solid precursors. It shows the strong dependence of the size, shape and thickness of the MoSe2 layers on the processing parameters. The morphology of the samples was investigated by field emission scanning electron microscopy (FESEM) and the thickness of the deposited layers was determined by atomic force microscopy (AFM). Raman and photoluminescence (PL) spectroscopies were used to confirm the high quality of the MoSe2 layers. Surface composition was examined by photoelectron spectroscopy (XPS). Moreover, the MoSe2/SiOx/Si heterojunctions exhibit diode behaviour, with a rectification ratio of 10, measured at +/- 2.0V, which is due to the p-i-n heterojunctions formed at the p-Si/SiOx/MoSe2 interface. A photovoltaic effect was observed with a short circuit current density (J(sc)), open circuit voltage (V-OC) and efficiency of -0.80mA/cm(2), 1.55V and 0.5%, respectively. These results provide a guide for the preparation of p-i-n heterojunctions based on few-layer MoSe2 with improved photovoltaic response.

  • Název v anglickém jazyce

    Morphological, optical and photovoltaic characteristics of MoSe2/SiOx/Si heterojunctions

  • Popis výsledku anglicky

    This work reports the effect of different processing parameters on the structural and morphological characteristics of MoSe2 layers grown by chemical vapour deposition (CVD), using MoO3 and Se powders as solid precursors. It shows the strong dependence of the size, shape and thickness of the MoSe2 layers on the processing parameters. The morphology of the samples was investigated by field emission scanning electron microscopy (FESEM) and the thickness of the deposited layers was determined by atomic force microscopy (AFM). Raman and photoluminescence (PL) spectroscopies were used to confirm the high quality of the MoSe2 layers. Surface composition was examined by photoelectron spectroscopy (XPS). Moreover, the MoSe2/SiOx/Si heterojunctions exhibit diode behaviour, with a rectification ratio of 10, measured at +/- 2.0V, which is due to the p-i-n heterojunctions formed at the p-Si/SiOx/MoSe2 interface. A photovoltaic effect was observed with a short circuit current density (J(sc)), open circuit voltage (V-OC) and efficiency of -0.80mA/cm(2), 1.55V and 0.5%, respectively. These results provide a guide for the preparation of p-i-n heterojunctions based on few-layer MoSe2 with improved photovoltaic response.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10305 - Fluids and plasma physics (including surface physics)

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/LM2018116" target="_blank" >LM2018116: Laboratoř fyziky povrchů - Optická dráha pro výzkum materiálů</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2020

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Scientific Reports

  • ISSN

    2045-2322

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    10

  • Číslo periodika v rámci svazku

    1

  • Stát vydavatele periodika

    GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

  • Počet stran výsledku

    9

  • Strana od-do

    1215

  • Kód UT WoS článku

    000559995900006

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-85078346778