Calculation of the optical quantities characterizing inhomogeneous thin film using a new mathematical procedure based on the matrix formalism and Drude approximation

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F01%3A00004153" target="_blank" >RIV/00216224:14310/01:00004153 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Calculation of the optical quantities characterizing inhomogeneous thin film using a new mathematical procedure based on the matrix formalism and Drude approximation

Popis výsledku v původním jazyce

In this contribution a new mathematical procedure enabling us to calculate the optical quantities of the inhomogeneous thin films such as reflectance, transmittance and ellipsometric parameters will be described. This procedure is based on combining theknown matrix formalism and Drude approximation. The inhomogeneous thin films is replaced by a multilayer system containing the thin films with a linear profiles of the dielectric function and different thicknesses. Every individual film of the multilayersystem is described by the matrix corresponding to the Drude approximation. Using this procedure one can construct an efficient algorithm allowing to calculate the values of the optical quantities of the inhomogeneous thin films exhibiting great gradients of the refractive index profiles.

Název v anglickém jazyce

Calculation of the optical quantities characterizing inhomogeneous thin film using a new mathematical procedure based on the matrix formalism and Drude approximation

Popis výsledku anglicky

In this contribution a new mathematical procedure enabling us to calculate the optical quantities of the inhomogeneous thin films such as reflectance, transmittance and ellipsometric parameters will be described. This procedure is based on combining theknown matrix formalism and Drude approximation. The inhomogeneous thin films is replaced by a multilayer system containing the thin films with a linear profiles of the dielectric function and different thicknesses. Every individual film of the multilayersystem is described by the matrix corresponding to the Drude approximation. Using this procedure one can construct an efficient algorithm allowing to calculate the values of the optical quantities of the inhomogeneous thin films exhibiting great gradients of the refractive index profiles.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA203%2F00%2F0085" target="_blank" >GA203/00/0085: Optické vlastnosti skel a amorfních tenkých vrstev sulfidů a selenidů</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2001

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

12th Czech-Slovak-Polish Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics

ISBN

0-8194-4047-7

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

207

Název nakladatele

SPIE - The International Society for Optical Engineering

Místo vydání

Bellingham, Washington, USA

Místo konání akce

Bellingham, Washington, USA

Datum konání akce

1. 1. 2001

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—