Optical Characterization of Chalcogenide Thin Films
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F01%3A00004310" target="_blank" >RIV/00216224:14310/01:00004310 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/00216275:25310/01:00000024
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Optical Characterization of Chalcogenide Thin Films
Popis výsledku v původním jazyce
In this paper the optical characterization of a film of amorphous As-S chalcogenides evaporated on glass substrates will be performed using variable angle of incidence spectroscopic ellipsometry (VASE) and near normal incidence spectroscopic reflectometry (NNSR). The spectral dependences of the ellipsometric parameters and reflectance of the chalcogenide thin film mentioned is measured within the near-UV, visible and near-IR spectral regions. For interpreting these optical quantities the new dispersionmodel of the spectral dependences of the optical constants of amorphous solids is employed. This model is based on the modified Lorentz oscillator. Within this model the concepts of the band gap and Urbach tail are respected.
Název v anglickém jazyce
Optical Characterization of Chalcogenide Thin Films
Popis výsledku anglicky
In this paper the optical characterization of a film of amorphous As-S chalcogenides evaporated on glass substrates will be performed using variable angle of incidence spectroscopic ellipsometry (VASE) and near normal incidence spectroscopic reflectometry (NNSR). The spectral dependences of the ellipsometric parameters and reflectance of the chalcogenide thin film mentioned is measured within the near-UV, visible and near-IR spectral regions. For interpreting these optical quantities the new dispersionmodel of the spectral dependences of the optical constants of amorphous solids is employed. This model is based on the modified Lorentz oscillator. Within this model the concepts of the band gap and Urbach tail are respected.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2001
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Applied Surface Science
ISSN
0169-4332
e-ISSN
—
Svazek periodika
175-176
Číslo periodika v rámci svazku
1
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
7
Strana od-do
555
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—