Srovnání teorie efektivního prostředí a Rayleigho-Riceovy teorie týkající se elipsometrického studia drsných povrchů

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F05%3A00013547" target="_blank" >RIV/00216224:14310/05:00013547 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/48399108:_____/05:#0000005

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Comparison of effective medium approximation and Rayleigh-Rice theory concerning ellipsometric characterization of rough surfaces

Popis výsledku v původním jazyce

In this paper the theoretical analysis of the correctness of applying the effective medium approximation (EMA) at the ellipsometric studies of rough surfaces is presented. Within this analysis the Rayleigh-Rice theory (RRT) is used to calculate the simulated ellipsometric data of various slightly randomly rough surfaces. This simulated data are treated using the least-squares method for finding the values of the parameters characterizing the rough surfaces within the EMA, i.e. the values of thickness and packing density factor describing a fictitious (effective) thin films replacing these surfaces within the EMA. It is shown that the EMA could be used to interprete the ellipsometric data of the rough surfaces in a correct way if their roughness only contains the high spatial frequencies. For the low spatial frequencies it is shown that the influence of the surface roughness on the ellipsometric quantities is small in contrast to its influence on the reflectance. Moreover, it is shown t

Název v anglickém jazyce

Comparison of effective medium approximation and Rayleigh-Rice theory concerning ellipsometric characterization of rough surfaces

Popis výsledku anglicky

In this paper the theoretical analysis of the correctness of applying the effective medium approximation (EMA) at the ellipsometric studies of rough surfaces is presented. Within this analysis the Rayleigh-Rice theory (RRT) is used to calculate the simulated ellipsometric data of various slightly randomly rough surfaces. This simulated data are treated using the least-squares method for finding the values of the parameters characterizing the rough surfaces within the EMA, i.e. the values of thickness and packing density factor describing a fictitious (effective) thin films replacing these surfaces within the EMA. It is shown that the EMA could be used to interprete the ellipsometric data of the rough surfaces in a correct way if their roughness only contains the high spatial frequencies. For the low spatial frequencies it is shown that the influence of the surface roughness on the ellipsometric quantities is small in contrast to its influence on the reflectance. Moreover, it is shown t

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/FT-TA%2F094" target="_blank" >FT-TA/094: *Vývoj metod pro charakterizaci defektů na površích pevných látek.</a><br>

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2005

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Optics Communications

ISSN

0030-4018

e-ISSN

—

Svazek periodika

248

Číslo periodika v rámci svazku

1

Stát vydavatele periodika

NL - Nizozemsko

Počet stran výsledku

9

Strana od-do

459-467

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—