Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Studium mechanických vlastností tenkých křemíkových vrstev deponovaných na skleněné a plastové podložky instrumentovanou indentační technikou

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F06%3A00015920" target="_blank" >RIV/00216224:14310/06:00015920 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/68081723:_____/06:00043751

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Mechanical properties of thin silicon films deposited on glass and plastic substrates studied by depth sensing indentation technique

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This work concerns the characterisation of mechanical properties of thin amorphous and microcrystalline silicon films deposited on glass and polyethylene terephthalate substrates. The film/substrate indentation response has been investigated from the near surface up to film/substrate interface using depth sensing indentation technique. The universal hardness, Vickers hardness, elastic modulus, fracture toughness and creep resistance of the studied films have been determined. Particular attention has been paid to the effects of the flexible viscoelastic-plastic substrate on the indentation response of the film/substrate system. (c) 2006 Elsevier B.V. All rights reserved.

  • Název v anglickém jazyce

    Mechanical properties of thin silicon films deposited on glass and plastic substrates studied by depth sensing indentation technique

  • Popis výsledku anglicky

    This work concerns the characterisation of mechanical properties of thin amorphous and microcrystalline silicon films deposited on glass and polyethylene terephthalate substrates. The film/substrate indentation response has been investigated from the near surface up to film/substrate interface using depth sensing indentation technique. The universal hardness, Vickers hardness, elastic modulus, fracture toughness and creep resistance of the studied films have been determined. Particular attention has been paid to the effects of the flexible viscoelastic-plastic substrate on the indentation response of the film/substrate system. (c) 2006 Elsevier B.V. All rights reserved.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2006

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Journal of Non-Crystalline Solids

  • ISSN

    0022-3093

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    352

  • Číslo periodika v rámci svazku

    9-20

  • Stát vydavatele periodika

    NL - Nizozemsko

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    1242-1245

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus