Srovnání disperzních modelů pro optickou charakterizaci As-S chalkogenidových tenkých vrstev

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F06%3A00016388" target="_blank" >RIV/00216224:14310/06:00016388 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/60162694:G43__/06:#0000330 RIV/68081731:_____/06:00092619

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Comparison of dispersion models in the optical characterization of As-S chalcogenide thin films

Popis výsledku v původním jazyce

In this paper, the optical analysis of the As?S thin films prepared under different conditions is performed using three dispersion models for amorphous materials typically employed in practice. The Tauc?Lorentz (TL) model, Urbach?Cody?Lorentz (UCL) modeland our model based on the parameterization of the density of electronic states (PDOS model) are namely used to determine the optical parameters of these films. Within the structural model of the As?S films, the existence of the optical constants profiles and overlayers on to the upper boundaries of these films are included. Dispersion and structural models are employed within the analysis based on a combination of variable angle spectroscopic ellipsometry and transmission spectrophotometry in conjunction with multi-sample modification. It is demonstrated that the TL model is not suitable for the optical characterization of the As?S thin films because of the absence of the Urbach tail. Furthermore, it is shown that both the UCL and PDO

Název v anglickém jazyce

Comparison of dispersion models in the optical characterization of As-S chalcogenide thin films

Popis výsledku anglicky

In this paper, the optical analysis of the As?S thin films prepared under different conditions is performed using three dispersion models for amorphous materials typically employed in practice. The Tauc?Lorentz (TL) model, Urbach?Cody?Lorentz (UCL) modeland our model based on the parameterization of the density of electronic states (PDOS model) are namely used to determine the optical parameters of these films. Within the structural model of the As?S films, the existence of the optical constants profiles and overlayers on to the upper boundaries of these films are included. Dispersion and structural models are employed within the analysis based on a combination of variable angle spectroscopic ellipsometry and transmission spectrophotometry in conjunction with multi-sample modification. It is demonstrated that the TL model is not suitable for the optical characterization of the As?S thin films because of the absence of the Urbach tail. Furthermore, it is shown that both the UCL and PDO

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA203%2F05%2F0524" target="_blank" >GA203/05/0524: Fotonická skla a amorfní vrstvy</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2006

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal of Non-Crystalline Solids

ISSN

0022-3093

e-ISSN

—

Svazek periodika

352

Číslo periodika v rámci svazku

52-54

Stát vydavatele periodika

NL - Nizozemsko

Počet stran výsledku

8

Strana od-do

5633-5641

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—