Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Studium rozorientace křídel laterálně přerostlých GaN rtg mikrodifrakčním zobrazováním

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F06%3A00017349" target="_blank" >RIV/00216224:14310/06:00017349 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    X-ray microdiffraction imaging investigations of wing tilt in epitaxially overgrown GaN

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The crystalline quality in epitaxially laterally overgrown (ELO) GaN and the amount of wing tilt is characterized on a local basis, with high spatial and angular resolution. A method of full-field X-ray microdiffraction imaging, termed rocking curve imaging, is used to record simultaneously a large set of local X-ray diffraction profiles originating from sample surface areas of micrometer size. x-omega maps of diffracted intensity allow to quantify the amount of wing tilt in individual lateral ELO periods as well as to monitor the fluctuations of tilt between adjacent periods. Automated shape analysis of the full set of local rocking curves provides a means to quantitatively characterize the local crystalline perfection of GaN. The ELO window and wingregions can be clearly separated; comparison indicates an average improvement of crystal quality by a factor 3?4 due to the lateral overgrowth process.

  • Název v anglickém jazyce

    X-ray microdiffraction imaging investigations of wing tilt in epitaxially overgrown GaN

  • Popis výsledku anglicky

    The crystalline quality in epitaxially laterally overgrown (ELO) GaN and the amount of wing tilt is characterized on a local basis, with high spatial and angular resolution. A method of full-field X-ray microdiffraction imaging, termed rocking curve imaging, is used to record simultaneously a large set of local X-ray diffraction profiles originating from sample surface areas of micrometer size. x-omega maps of diffracted intensity allow to quantify the amount of wing tilt in individual lateral ELO periods as well as to monitor the fluctuations of tilt between adjacent periods. Automated shape analysis of the full set of local rocking curves provides a means to quantitatively characterize the local crystalline perfection of GaN. The ELO window and wingregions can be clearly separated; comparison indicates an average improvement of crystal quality by a factor 3?4 due to the lateral overgrowth process.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2006

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Physica stat.sol.(a)

  • ISSN

    0031-8965

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    203

  • Číslo periodika v rámci svazku

    7

  • Stát vydavatele periodika

    DE - Spolková republika Německo

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

    1733-1738

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus