Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Performance of multilayer monochromators for hard X-ray imaging with coherent synchrotron radiation

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F11%3A00054692" target="_blank" >RIV/00216224:14310/11:00054692 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://proceedings.aip.org/resource/2/apcpcs/1365/1/77_1?bypassSSO=1" target="_blank" >http://proceedings.aip.org/resource/2/apcpcs/1365/1/77_1?bypassSSO=1</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.3625308" target="_blank" >10.1063/1.3625308</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Performance of multilayer monochromators for hard X-ray imaging with coherent synchrotron radiation

  • Popis výsledku v původním jazyce

    We publish a study in which multilayers of different periodicity (from 2.5 to 5.5 nm), composition (W/Si, Mo/Si, Pd/B4C, Ru/B4C), and numbers of layers have been compared.

  • Název v anglickém jazyce

    Performance of multilayer monochromators for hard X-ray imaging with coherent synchrotron radiation

  • Popis výsledku anglicky

    We publish a study in which multilayers of different periodicity (from 2.5 to 5.5 nm), composition (W/Si, Mo/Si, Pd/B4C, Ru/B4C), and numbers of layers have been compared.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2011

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    THE 10TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON X'RAY MICROSCOPY

  • ISBN

    978-0-7354-0925-5

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    77-80

  • Název nakladatele

    AIP

  • Místo vydání

    USA

  • Místo konání akce

    Chicago, Illinois, (USA)

  • Datum konání akce

    15. 8. 2010

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000298672400015