Oxidation of Silicon Surface by DCSBD

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F12%3A00064653" target="_blank" >RIV/00216224:14310/12:00064653 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Oxidation of Silicon Surface by DCSBD
Popis výsledku v původním jazyce
In the present work plasma oxidation of crystalline silicon (c-Si) surface in diffuse coplanar surface barrier discharge (DCSBD) generated at atmospheric pressure has been studied. Silicon surface has been oxidized in oxygen and argon plasma. The surfaceproperties have been studied by means scanning electron microscopy (SEM) and energy dispersive X-ray (EDX) analyses. It was found that thin layer of amorphous silicon dioxide during the short treatment time was formed. Oxidation by DCSBD could representnew alternative of a low cost and fast oxidation process.
Název v anglickém jazyce
Oxidation of Silicon Surface by DCSBD
Popis výsledku anglicky
In the present work plasma oxidation of crystalline silicon (c-Si) surface in diffuse coplanar surface barrier discharge (DCSBD) generated at atmospheric pressure has been studied. Silicon surface has been oxidized in oxygen and argon plasma. The surfaceproperties have been studied by means scanning electron microscopy (SEM) and energy dispersive X-ray (EDX) analyses. It was found that thin layer of amorphous silicon dioxide during the short treatment time was formed. Oxidation by DCSBD could representnew alternative of a low cost and fast oxidation process.

Projekt
<a href="/cs/project/ED2.1.00%2F03.0086" target="_blank" >ED2.1.00/03.0086: Regionální VaV centrum pro nízkonákladové plazmové a nanotechnologické povrchové úpravy</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění
2012
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)