Vacuum variable-angle far-infrared ellipsometer
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F17%3A00097620" target="_blank" >RIV/00216224:14310/17:00097620 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2016.10.125" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2016.10.125</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2016.10.125" target="_blank" >10.1016/j.apsusc.2016.10.125</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Vacuum variable-angle far-infrared ellipsometer
Popis výsledku v původním jazyce
We present the design and performance of a vacuum far-infrared (similar to 50-680 cm(-1)) ellipsometer witha rotating analyser. The system is based on a Fourier transform spectrometer, an in-house built ellipsometer chamber and a closed-cycle bolometer. The ellipsometer chamber is equipped with a computer controlled theta-2 theta goniometer for automated measurements at various angles of incidence. We compare our measurements on SrTiO3 crystal with the results acquired above 300 cm(-1) with a commercially available ellipsometer system. After the calibration of the angle of incidence and after taking into account the finite reflectivity of mirrors in the detector part we obtain a very good agreement between the data from the two instruments. The system can be supplemented with a closed-cycle He cryostat for measurements between 5 and 400 K. (C) 2016 Published by Elsevier B.V.
Název v anglickém jazyce
Vacuum variable-angle far-infrared ellipsometer
Popis výsledku anglicky
We present the design and performance of a vacuum far-infrared (similar to 50-680 cm(-1)) ellipsometer witha rotating analyser. The system is based on a Fourier transform spectrometer, an in-house built ellipsometer chamber and a closed-cycle bolometer. The ellipsometer chamber is equipped with a computer controlled theta-2 theta goniometer for automated measurements at various angles of incidence. We compare our measurements on SrTiO3 crystal with the results acquired above 300 cm(-1) with a commercially available ellipsometer system. After the calibration of the angle of incidence and after taking into account the finite reflectivity of mirrors in the detector part we obtain a very good agreement between the data from the two instruments. The system can be supplemented with a closed-cycle He cryostat for measurements between 5 and 400 K. (C) 2016 Published by Elsevier B.V.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/LQ1601" target="_blank" >LQ1601: CEITEC 2020</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach<br>I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2017
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Applied Surface Science
ISSN
0169-4332
e-ISSN
—
Svazek periodika
421
Číslo periodika v rámci svazku
November
Stát vydavatele periodika
NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
430-434
Kód UT WoS článku
000408756700026
EID výsledku v databázi Scopus
—