Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Ellipsometry of Layered Systems

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F18%3A00104686" target="_blank" >RIV/00216224:14310/18:00104686 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-3-319-75325-6_9" target="_blank" >https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-3-319-75325-6_9</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-75325-6_9" target="_blank" >10.1007/978-3-319-75325-6_9</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Ellipsometry of Layered Systems

  • Popis výsledku v původním jazyce

    In this chapter the theoretical aspects of ellipsometry and their applications in optics of layered systems are presented. The basic formulae of the theory of ellipsometric measurements are introduced. For this purpose the Jones and Stokes--Mueller matrix formalisms are used. By using these formalisms the individual types of ellipsometry and the most utilized ellipsometric techniques are briefly described. Furthermore, the matrix formalisms enabling us to derive the formulae for the optical quantities of optically isotropic and anisotropic layered systems are described as well. Applications of the matrix formalisms in practice are illustrated by means of three examples.

  • Název v anglickém jazyce

    Ellipsometry of Layered Systems

  • Popis výsledku anglicky

    In this chapter the theoretical aspects of ellipsometry and their applications in optics of layered systems are presented. The basic formulae of the theory of ellipsometric measurements are introduced. For this purpose the Jones and Stokes--Mueller matrix formalisms are used. By using these formalisms the individual types of ellipsometry and the most utilized ellipsometric techniques are briefly described. Furthermore, the matrix formalisms enabling us to derive the formulae for the optical quantities of optically isotropic and anisotropic layered systems are described as well. Applications of the matrix formalisms in practice are illustrated by means of three examples.

Klasifikace

  • Druh

    C - Kapitola v odborné knize

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10306 - Optics (including laser optics and quantum optics)

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/LO1411" target="_blank" >LO1411: Rozvoj centra pro nízkonákladové plazmové a nanotechnologické povrchové úpravy</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2018

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název knihy nebo sborníku

    Optical Characterization of Thin Solid Films

  • ISBN

    9783319753249

  • Počet stran výsledku

    35

  • Strana od-do

    233-267

  • Počet stran knihy

    462

  • Název nakladatele

    Springer

  • Místo vydání

    Cham

  • Kód UT WoS kapitoly

    000441388800011