Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Simultaneous determination of dispersion model parameters and local thickness of thin films by imaging spectrophotometry

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14740%2F15%3A00080452" target="_blank" >RIV/00216224:14740/15:00080452 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/00216305:26210/15:PU114477

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2015.01.093" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2015.01.093</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2015.01.093" target="_blank" >10.1016/j.apsusc.2015.01.093</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Simultaneous determination of dispersion model parameters and local thickness of thin films by imaging spectrophotometry

  • Popis výsledku v původním jazyce

    A least-squares data fitting procedure is developed for the analysis of measurements of thin films non-uniform in thickness by imaging spectroscopic reflectometry. It solves the problem of simultaneous least-squares fitting of film thicknesses in all image pixels together with shared dispersion model parameters. Since the huge number of mutually correlated fitting parameters prevents a straightforward application of the standard Levenberg-Marquardt algorithm, the presented procedure exploits the special structure of the specific least-squares problem. The free parameters are split into thicknesses and dispersion model parameters. Both groups of parameters are fitted alternately, utilising an unmodified Levenberg-Marquardt algorithm, correcting however the thicknesses during the dispersion model fitting step to preserve effective optical thicknesses.

  • Název v anglickém jazyce

    Simultaneous determination of dispersion model parameters and local thickness of thin films by imaging spectrophotometry

  • Popis výsledku anglicky

    A least-squares data fitting procedure is developed for the analysis of measurements of thin films non-uniform in thickness by imaging spectroscopic reflectometry. It solves the problem of simultaneous least-squares fitting of film thicknesses in all image pixels together with shared dispersion model parameters. Since the huge number of mutually correlated fitting parameters prevents a straightforward application of the standard Levenberg-Marquardt algorithm, the presented procedure exploits the special structure of the specific least-squares problem. The free parameters are split into thicknesses and dispersion model parameters. Both groups of parameters are fitted alternately, utilising an unmodified Levenberg-Marquardt algorithm, correcting however the thicknesses during the dispersion model fitting step to preserve effective optical thicknesses.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BH - Optika, masery a lasery

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2015

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Applied Surface Science

  • ISSN

    0169-4332

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    350

  • Číslo periodika v rámci svazku

    SEP

  • Stát vydavatele periodika

    GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

  • Počet stran výsledku

    7

  • Strana od-do

    149-155

  • Kód UT WoS článku

    000359166600026

  • EID výsledku v databázi Scopus