Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Příprava a charakterizace amorfních tenkých vrstev Ga-Ge-Sb-S.

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216275%3A25310%2F06%3A00004193" target="_blank" >RIV/00216275:25310/06:00004193 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Fabrication and characterization of amorphous Ga-Ge-Sb-S thin films.

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The aim of the present investigation was to optimize deposition conditions for the preparation of pure and Tm3+ or Er3+ doped sulphide films by pulsed laser deposition and rf magnetron sputtering system. The study of their compositional, morphological and structural characteristics was realized by MEB-EDS, atomic force, RBS, X-ray diffraction and Raman spectroscopy analyses. Some optical properties (transmittance, index of refraction, optical band gap, etc.) of prepared chalcogenide films and the propagation modes measured at 633 nm, 1304 nm and 1540 nm by means of the m-lines prism-coupling configuration were investigated. The whole results point out hopeful perspectives strengthened by the clear observation of the photo-luminescence of erbium and thulium within doped sulphide films.

  • Název v anglickém jazyce

    Fabrication and characterization of amorphous Ga-Ge-Sb-S thin films.

  • Popis výsledku anglicky

    The aim of the present investigation was to optimize deposition conditions for the preparation of pure and Tm3+ or Er3+ doped sulphide films by pulsed laser deposition and rf magnetron sputtering system. The study of their compositional, morphological and structural characteristics was realized by MEB-EDS, atomic force, RBS, X-ray diffraction and Raman spectroscopy analyses. Some optical properties (transmittance, index of refraction, optical band gap, etc.) of prepared chalcogenide films and the propagation modes measured at 633 nm, 1304 nm and 1540 nm by means of the m-lines prism-coupling configuration were investigated. The whole results point out hopeful perspectives strengthened by the clear observation of the photo-luminescence of erbium and thulium within doped sulphide films.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    CA - Anorganická chemie

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2006

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Proc. SPIE Int. Soc. Opt. Eng.

  • ISSN

    0277-786X

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    5956

  • Číslo periodika v rámci svazku

    -

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    8

  • Strana od-do

    1-8

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus