Optical properties and photoinduced phenomena in glasses and thin films of system As2Se3-As2Te3-SnTe
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216275%3A25310%2F12%3A39895174" target="_blank" >RIV/00216275:25310/12:39895174 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/61389013:_____/12:00380724
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Optical properties and photoinduced phenomena in glasses and thin films of system As2Se3-As2Te3-SnTe
Popis výsledku v původním jazyce
Bulk glasses of system (As2Se3)(80-x)(As2Te3)(x)(SnTe)(20) (x = 0, 5, 10, 15, 20) were prepared by melt quenching method from high purity elements. Amorphous thin films were prepared by pulsed laser deposition. The optically and thermally induced changesof basic parameters of thin films were studied using optical transmittance measurements and spectral ellipsometry. The values of refractive index and its third order non-linear coefficient of PLD layers with x = 15 and 20 slightly increased after exposure and even more after annealing near Tg. These values decreased after exposure and increased after annealing in PLD layers with x = 0; 5 and 10. Optical band gap slightly decreased after exposure and annealing near Tg.
Název v anglickém jazyce
Optical properties and photoinduced phenomena in glasses and thin films of system As2Se3-As2Te3-SnTe
Popis výsledku anglicky
Bulk glasses of system (As2Se3)(80-x)(As2Te3)(x)(SnTe)(20) (x = 0, 5, 10, 15, 20) were prepared by melt quenching method from high purity elements. Amorphous thin films were prepared by pulsed laser deposition. The optically and thermally induced changesof basic parameters of thin films were studied using optical transmittance measurements and spectral ellipsometry. The values of refractive index and its third order non-linear coefficient of PLD layers with x = 15 and 20 slightly increased after exposure and even more after annealing near Tg. These values decreased after exposure and increased after annealing in PLD layers with x = 0; 5 and 10. Optical band gap slightly decreased after exposure and annealing near Tg.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
CA - Anorganická chemie
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2012
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Optoelectronics and Advanced Materials
ISSN
1454-4164
e-ISSN
—
Svazek periodika
14
Číslo periodika v rámci svazku
1-2
Stát vydavatele periodika
RO - Rumunsko
Počet stran výsledku
7
Strana od-do
150-156
Kód UT WoS článku
000302579300024
EID výsledku v databázi Scopus
—