Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Electronic and atomic structure of amorphous thin films with high-resolution XPS: Examples of applications & limitations

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216275%3A25310%2F13%3A39896251" target="_blank" >RIV/00216275:25310/13:39896251 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0022309313001300" target="_blank" >http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0022309313001300</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2013.02.030" target="_blank" >10.1016/j.jnoncrysol.2013.02.030</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Electronic and atomic structure of amorphous thin films with high-resolution XPS: Examples of applications & limitations

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The use of high resolution X-ray photoelectron spectroscopy to study chalcogenide glass thin films is analyzed. It is shown that the method is an effective tool to explore different chemical environments in the films and control chemical composition of the surface. Examples of the method applications such as kinetics study of induced silver dissolution in the thin films and investigation of oxidation on the surface of the thin film are presented. Limitations of the method are shown on the example of photoinduced structural transformations in chalcogenide glass thin films.

  • Název v anglickém jazyce

    Electronic and atomic structure of amorphous thin films with high-resolution XPS: Examples of applications & limitations

  • Popis výsledku anglicky

    The use of high resolution X-ray photoelectron spectroscopy to study chalcogenide glass thin films is analyzed. It is shown that the method is an effective tool to explore different chemical environments in the films and control chemical composition of the surface. Examples of the method applications such as kinetics study of induced silver dissolution in the thin films and investigation of oxidation on the surface of the thin film are presented. Limitations of the method are shown on the example of photoinduced structural transformations in chalcogenide glass thin films.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    CA - Anorganická chemie

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GAP204%2F11%2F0832" target="_blank" >GAP204/11/0832: Tvorba optických prvků založená na mikro- a nanostrukturování chalkogenidových vrstev</a><br>

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2013

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Journal of Non-Crystalline Solids

  • ISSN

    0022-3093

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    377

  • Číslo periodika v rámci svazku

    1

  • Stát vydavatele periodika

    NL - Nizozemsko

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    155-158

  • Kód UT WoS článku

    000325304800034

  • EID výsledku v databázi Scopus