Analysis of pulsed laser deposited amorphous chalcogenide film thickness distribution: Plume deflection angle dependence
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216275%3A25310%2F18%3A39912468" target="_blank" >RIV/00216275:25310/18:39912468 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2017.11.022" target="_blank" >https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2017.11.022</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2017.11.022" target="_blank" >10.1016/j.jnoncrysol.2017.11.022</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Analysis of pulsed laser deposited amorphous chalcogenide film thickness distribution: Plume deflection angle dependence
Popis výsledku v původním jazyce
Pulsed laser deposition exploiting a KrF excimer laser was used to fabricate amorphous As-S thin films from bulk As2S3 glass target. Thickness profile of the film was extracted from variable angle spectroscopic ellipsometry data. The dependence of thickness distribution of prepared thin layer on laser beam plume deflection angle was evaluated and corresponding equations were suggested.
Název v anglickém jazyce
Analysis of pulsed laser deposited amorphous chalcogenide film thickness distribution: Plume deflection angle dependence
Popis výsledku anglicky
Pulsed laser deposition exploiting a KrF excimer laser was used to fabricate amorphous As-S thin films from bulk As2S3 glass target. Thickness profile of the film was extracted from variable angle spectroscopic ellipsometry data. The dependence of thickness distribution of prepared thin layer on laser beam plume deflection angle was evaluated and corresponding equations were suggested.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
10305 - Fluids and plasma physics (including surface physics)
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA16-17921S" target="_blank" >GA16-17921S: Heterostruktury založené na chalkogenidech pro nelineární optiku a optické senzory</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2018
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Non-Crystalline Solids
ISSN
0022-3093
e-ISSN
—
Svazek periodika
481
Číslo periodika v rámci svazku
February
Stát vydavatele periodika
NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku
3
Strana od-do
409-411
Kód UT WoS článku
000423646200057
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85034077639