2D and thin-film copper synthesized via magnetron sputtering
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216275%3A25310%2F24%3A39921795" target="_blank" >RIV/00216275:25310/24:39921795 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://doi.org/10.1557/s43579-024-00529-4" target="_blank" >https://doi.org/10.1557/s43579-024-00529-4</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1557/s43579-024-00529-4" target="_blank" >10.1557/s43579-024-00529-4</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
2D and thin-film copper synthesized via magnetron sputtering
Popis výsledku v původním jazyce
Two-dimensional metals have gained great attention in recent years. However, most of these metals possess relatively strong chemical bonding in three directions; therefore, it is difficult to synthesize 2D metals. In this paper, we prepared 2D and thin- film copper materials via magnetron sputtering. 2D and thin-film copper are formed due to the accumulation of strain and stress associated with different coefficients of thermal expansion for the metal and substrate. SEM and AFM studies suggest that the minimum thickness of a freestanding single layer is approximately 1 nm, with lateral dimensions up to a few millimeters.
Název v anglickém jazyce
2D and thin-film copper synthesized via magnetron sputtering
Popis výsledku anglicky
Two-dimensional metals have gained great attention in recent years. However, most of these metals possess relatively strong chemical bonding in three directions; therefore, it is difficult to synthesize 2D metals. In this paper, we prepared 2D and thin- film copper materials via magnetron sputtering. 2D and thin-film copper are formed due to the accumulation of strain and stress associated with different coefficients of thermal expansion for the metal and substrate. SEM and AFM studies suggest that the minimum thickness of a freestanding single layer is approximately 1 nm, with lateral dimensions up to a few millimeters.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
20500 - Materials engineering
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/EF17_048%2F0007376" target="_blank" >EF17_048/0007376: Senzory s vysokou citlivostí a materiály s nízkou hustotou na bázi polymerních nanokompozitů-NANOMAT</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2024
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
MRS Communications
ISSN
2159-6859
e-ISSN
2159-6867
Svazek periodika
14
Číslo periodika v rámci svazku
3
Stát vydavatele periodika
DE - Spolková republika Německo
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
317-322
Kód UT WoS článku
001159716400004
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85185146925