Modeling C-AFM measurement using FEM

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26110%2F14%3APU112356" target="_blank" >RIV/00216305:26110/14:PU112356 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/00216305:26110/15:PU117470

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Modeling C-AFM measurement using FEM

Popis výsledku v původním jazyce

The presented work describes a finite element method based modeling of a conductive AFM measurement process. The C-AFM is a scanning probe microscopy technique for mapping electrical properties of a sample together with its topography. The contact resistance between the probe and the rough surface is modeled in two steps - first the problem of mechanical deformation is solved and then the electrical field, and current, is found. The geometry of the model comes from a real sample topography measured using AFM. The whole multiphysics 3D simulation is done for each data point, which makes the problem possible to be solved only using a supercomputer with many simplifications and optimizations.

Název v anglickém jazyce

Modeling C-AFM measurement using FEM

Popis výsledku anglicky

The presented work describes a finite element method based modeling of a conductive AFM measurement process. The C-AFM is a scanning probe microscopy technique for mapping electrical properties of a sample together with its topography. The contact resistance between the probe and the rough surface is modeled in two steps - first the problem of mechanical deformation is solved and then the electrical field, and current, is found. The geometry of the model comes from a real sample topography measured using AFM. The whole multiphysics 3D simulation is done for each data point, which makes the problem possible to be solved only using a supercomputer with many simplifications and optimizations.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JB - Senzory, čidla, měření a regulace

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění

2014

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Nanocon 2014

ISBN

978-80-87294-55-0

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

1-6

Název nakladatele

Neuveden

Místo vydání

Neuveden

Místo konání akce

Brno

Datum konání akce

5. 11. 2014

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—