Vibrational Analysis of the Cantilever in Non-contact Scanning Force Microscopy

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26210%2F00%3A00000030" target="_blank" >RIV/00216305:26210/00:00000030 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/00216305:26210/00:PU25059

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Vibrational Analysis of the Cantilever in Non-contact Scanning Force Microscopy

Popis výsledku v původním jazyce

In this paper the basic principles of non-contact scanning force microscopy (SFM) are explained. The major long-range forces between a tip and a sample, and consequently the changes of vibration characteristics with the tip-sample distance, are discussed. To estimate the resolution limits of the non-contact method, the motion of a vibrating silicon cantilever above testing silicon nanostructure models was simulated numerically. This was done both in mode of constant height and constant force. To simulate the real behaviour of the tip in the mode of constant force, we included into our calculations the feedback loop.

Název v anglickém jazyce

Vibrational Analysis of the Cantilever in Non-contact Scanning Force Microscopy

Popis výsledku anglicky

In this paper the basic principles of non-contact scanning force microscopy (SFM) are explained. The major long-range forces between a tip and a sample, and consequently the changes of vibration characteristics with the tip-sample distance, are discussed. To estimate the resolution limits of the non-contact method, the motion of a vibrating silicon cantilever above testing silicon nanostructure models was simulated numerically. This was done both in mode of constant height and constant force. To simulate the real behaviour of the tip in the mode of constant force, we included into our calculations the feedback loop.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2000

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Surface and Interface Analysis

ISSN

0142-2421

e-ISSN

—

Svazek periodika

2000

Číslo periodika v rámci svazku

30

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—