Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Vibrational analysis of the cantilever in non-contact scanning force microscopy

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26210%2F99%3A00000126" target="_blank" >RIV/00216305:26210/99:00000126 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Vibrational analysis of the cantilever in non-contact scanning force microscopy

  • Popis výsledku v původním jazyce

    SFM is based on detection of forces between an observed sample surface and a sharp tip located on the end of cantilever. In non-contact mode the changes of effective resonant fraquency of the cantilever with a distance between the tip and surface is utilised for imaging the nanostructure objects. The forces having decisive influence in the non-contact mode of UHV SFM van der Waals attractive forces between the tip and surface atoms. We simulated resolution limits of the non-contact method based on theseforces - to describe the interaction between the tip and testing surface structures we considered the tip of conical shape terminated by a spherical cap. The surface was modelled by an infinite surface plane bearing atomic scale objects (nanostructures).

  • Název v anglickém jazyce

    Vibrational analysis of the cantilever in non-contact scanning force microscopy

  • Popis výsledku anglicky

    SFM is based on detection of forces between an observed sample surface and a sharp tip located on the end of cantilever. In non-contact mode the changes of effective resonant fraquency of the cantilever with a distance between the tip and surface is utilised for imaging the nanostructure objects. The forces having decisive influence in the non-contact mode of UHV SFM van der Waals attractive forces between the tip and surface atoms. We simulated resolution limits of the non-contact method based on theseforces - to describe the interaction between the tip and testing surface structures we considered the tip of conical shape terminated by a spherical cap. The surface was modelled by an infinite surface plane bearing atomic scale objects (nanostructures).

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GV101%2F97%2FK009" target="_blank" >GV101/97/K009: Vědecké centrum nanotechnologií a povrchového inženýrství</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    1999

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    ECASIA 99

  • ISBN

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    1

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    ECASIA 99

  • Místo vydání

    Sevilla, Španělsko

  • Místo konání akce

  • Datum konání akce

  • Typ akce podle státní příslušnosti

  • Kód UT WoS článku