Přivítejte ve výuce mikroskopy se skenující sondou

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26210%2F16%3APU118811" target="_blank" >RIV/00216305:26210/16:PU118811 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Přivítejte ve výuce mikroskopy se skenující sondou
Popis výsledku v původním jazyce
Mikroskopie skenující sondou (scanning probe microscopy, SPM; též rastrovací sondová či hrotová mikroskopie) patří mezi moderní mikroskopické metody běžně používané ve fyzikálních, chemických i biologických laboratořích. SPM totiž umožňuje nahlížet do nanosvěta – dovoluje zobrazovat a charakterizovat povrchy vzorků na úrovni nanometrů (i menší).
Název v anglickém jazyce
Introduce Scanning Probe Microscopy into Education
Popis výsledku anglicky
Contemporary chemistry, physics, as well as biology frequently deal with the structure of matter at nanoscale level. One of the most important techniques used for imaging and measuring surfaces at the nanoscale (sometimes even with atomic resolution) is the scanning probe microscopy (SPM). SPM is an important up-and-coming technique in both academic sphere and industry. For this reason, concepts underlying SPM should be mentioned in secondary education, at least for students with an interest in science and technical subjects. In order to introduce SPM into secondary science education, various teaching approaches might be followed. In this contribution, special attention is paid to simple models and analogies of SPM to illustrate the basic SPM principles.

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—

Rok uplatnění
2016
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)