Low-Frequency Noise of Thick-Film Resistors as Quality and Reliability Indicator
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F01%3APU21527" target="_blank" >RIV/00216305:26220/01:PU21527 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Low-Frequency Noise of Thick-Film Resistors as Quality and Reliability Indicator
Popis výsledku v původním jazyce
The non-linearity and the noise of thick-film resistors are parameters that can be used to make prediction of resistor reliability. The noise spectroscopy measurements of thick-film resistors are proposed as a diagnostic tool for the prediction of possible types of failure. The correlation between noise spectral density datat and the results of accelerated aging of thick-film resistors at high temperature were made for HS80 and 2000 resistor pastes.
Název v anglickém jazyce
Low-Frequency Noise of Thick-Film Resistors as Quality and Reliability Indicator
Popis výsledku anglicky
The non-linearity and the noise of thick-film resistors are parameters that can be used to make prediction of resistor reliability. The noise spectroscopy measurements of thick-film resistors are proposed as a diagnostic tool for the prediction of possible types of failure. The correlation between noise spectral density datat and the results of accelerated aging of thick-film resistors at high temperature were made for HS80 and 2000 resistor pastes.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/ME%20244" target="_blank" >ME 244: Stanovení kvality a spolehlivosti tlustovrstvových rezistorů cumovou spektroskopií</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2001
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Microelectronics Reliability
ISSN
0026-2714
e-ISSN
—
Svazek periodika
41
Číslo periodika v rámci svazku
4
Stát vydavatele periodika
NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku
12
Strana od-do
531-542
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—