Deposition and Measurement of Antireflection Coatings for Semiconductor Laser

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F01%3APU22840" target="_blank" >RIV/00216305:26220/01:PU22840 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Deposition and Measurement of Antireflection Coatings for Semiconductor Laser

Popis výsledku v původním jazyce

This contribution presents experimental results obtained by deposition double-layer system made by means of electron-beam vacuum evaporation technique. We oriented our effort to short-wavelength 633 - 635 nm laser diodes. These devices are emitting closeto the wavelength of traditional He-Ne lasers with an intention to use them in extended-cavity laser design for metrological purposes. The resulting reflectivities were evaluated by measuring a testing plate of GaAs and by measuring a "modulation depth"" of a coated diode emission spectra. Our best results were reflectivities well below 10-4 and the repeatibility of the deposition process in a range not exceeding 2x10-4.

Název v anglickém jazyce

Deposition and Measurement of Antireflection Coatings for Semiconductor Laser

Popis výsledku anglicky

This contribution presents experimental results obtained by deposition double-layer system made by means of electron-beam vacuum evaporation technique. We oriented our effort to short-wavelength 633 - 635 nm laser diodes. These devices are emitting closeto the wavelength of traditional He-Ne lasers with an intention to use them in extended-cavity laser design for metrological purposes. The resulting reflectivities were evaluated by measuring a testing plate of GaAs and by measuring a "modulation depth"" of a coated diode emission spectra. Our best results were reflectivities well below 10-4 and the repeatibility of the deposition process in a range not exceeding 2x10-4.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2001

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of 7th conference Student FEI 2001

ISBN

80-214-1860-5

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

291-295

Název nakladatele

Ing.Zdeněk Novotný

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

Technická 8, FEI VUT, Brno

Datum konání akce

19. 4. 2001

Typ akce podle státní příslušnosti

CST - Celostátní akce

Kód UT WoS článku

—