Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Measurement of Residual Reflectivity and Wavelength of Coated Laser Diodes

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F01%3APU23069" target="_blank" >RIV/00216305:26220/01:PU23069 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Measurement of Residual Reflectivity and Wavelength of Coated Laser Diodes

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This contribution presents experimental results obtained by deposition of double-layer system made by means of electron-beam vacuum evaporation technique. We oriented our effort to short-wavelength 633 - 635 nm laser diodes. These devices are emitting close to the wavelength of traditional He-Ne lasers with an intention to use them in extended-cavity laser design for metrological purposes. The resulting reflectivities were evaluated by measuring a testing plate of GaAs and by measuring a "modulation deppth" of a coated diode emission spectra. Our best results were reflectivities well below 10-4 and the repeatibility of the deposition process in a range not exceeding 2x10-4.

  • Název v anglickém jazyce

    Measurement of Residual Reflectivity and Wavelength of Coated Laser Diodes

  • Popis výsledku anglicky

    This contribution presents experimental results obtained by deposition of double-layer system made by means of electron-beam vacuum evaporation technique. We oriented our effort to short-wavelength 633 - 635 nm laser diodes. These devices are emitting close to the wavelength of traditional He-Ne lasers with an intention to use them in extended-cavity laser design for metrological purposes. The resulting reflectivities were evaluated by measuring a testing plate of GaAs and by measuring a "modulation deppth" of a coated diode emission spectra. Our best results were reflectivities well below 10-4 and the repeatibility of the deposition process in a range not exceeding 2x10-4.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2001

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    RADIOELEKTRONIKA 2001

  • ISBN

    80-214-1861-3

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    286-289

  • Název nakladatele

    Institute of Radio Electronics, Brno UT

  • Místo vydání

    Neuveden

  • Místo konání akce

    Brno

  • Datum konání akce

    10. 5. 2001

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    EUR - Evropská akce

  • Kód UT WoS článku