The Gummel-Poon Statistical Model
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F01%3APU23139" target="_blank" >RIV/00216305:26220/01:PU23139 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
The Gummel-Poon Statistical Model
Popis výsledku v původním jazyce
The statistical model of the bipolar transistor must include the parameter correlations and proper distributions to accurately simulate transistor performance. The contribution presents the statistical Gummel-Poon model including the correlated parameters of saturation current and forward beta to account for transistor parameters production variations. The simulation results of a correlated model show a good match of measured and simulated characteristics and confirm the fundamental role of saturation ccurrent on forward beta dependence for correlated model development.
Název v anglickém jazyce
The Gummel-Poon Statistical Model
Popis výsledku anglicky
The statistical model of the bipolar transistor must include the parameter correlations and proper distributions to accurately simulate transistor performance. The contribution presents the statistical Gummel-Poon model including the correlated parameters of saturation current and forward beta to account for transistor parameters production variations. The simulation results of a correlated model show a good match of measured and simulated characteristics and confirm the fundamental role of saturation ccurrent on forward beta dependence for correlated model development.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA102%2F00%2F0939" target="_blank" >GA102/00/0939: Integrované inteligentní mikrosenzory a mikrosystémy</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2001
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Socrates Workshop 2001. Intensive Training Programme in Electronic System Design. Proceedings. Crete September 3-12, 2001. Edited by V. Musil and J.Brzobohaty.
ISBN
80-214-2027-8
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
276-281
Název nakladatele
Vyd. Ing. Zdeněk Novotný, Brno 2001,
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Chania, Crete, Greece
Datum konání akce
3. 9. 2001
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—