Noise Spectroscopy of Thick Film Resistors

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F01%3APU23965" target="_blank" >RIV/00216305:26220/01:PU23965 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Noise Spectroscopy of Thick Film Resistors
Popis výsledku v původním jazyce
The noise spectroscopy and non-linearity measurements of thick film layers are proposed as a diagnostic tool for prediction of possible types of failure. The characteristic measured using two resistor pastas were compared and resistor termination influence evaluated with contact noise found negligible. Correlation between long-term stability, current noise and third harmonic index was investigated.
Název v anglickém jazyce
Noise Spectroscopy of Thick Film Resistors
Popis výsledku anglicky
The noise spectroscopy and non-linearity measurements of thick film layers are proposed as a diagnostic tool for prediction of possible types of failure. The characteristic measured using two resistor pastas were compared and resistor termination influence evaluated with contact noise found negligible. Correlation between long-term stability, current noise and third harmonic index was investigated.

Projekt
<a href="/cs/project/ME%20244" target="_blank" >ME 244: Stanovení kvality a spolehlivosti tlustovrstvových rezistorů cumovou spektroskopií</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění
2001
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)