Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

A/D Switched-Current Converter with Built-In Self Testing Features

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F02%3APU29976" target="_blank" >RIV/00216305:26220/02:PU29976 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    A/D Switched-Current Converter with Built-In Self Testing Features

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Presented paper deals with the practical aspects of implementation of test circuitry into CMOS design of an analogue-to-digital converter. Properties of the structure of switched-current mode are discussed for design-for-test. Since the switched-currentstructure changes the mode of operation of current copiers (switched-current memory cell), large fault coverage can be reached if creating proper design-for-test. As the example, analysis of an A/D converter is used, designed in switched-current techniquue, when sampling data. The contribution aims at problems concerned with controllability and observability of internal nodes. The models developed were utilized and SPICE simulations performed to verify theoretical proposals.

  • Název v anglickém jazyce

    A/D Switched-Current Converter with Built-In Self Testing Features

  • Popis výsledku anglicky

    Presented paper deals with the practical aspects of implementation of test circuitry into CMOS design of an analogue-to-digital converter. Properties of the structure of switched-current mode are discussed for design-for-test. Since the switched-currentstructure changes the mode of operation of current copiers (switched-current memory cell), large fault coverage can be reached if creating proper design-for-test. As the example, analysis of an A/D converter is used, designed in switched-current techniquue, when sampling data. The contribution aims at problems concerned with controllability and observability of internal nodes. The models developed were utilized and SPICE simulations performed to verify theoretical proposals.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JB - Senzory, čidla, měření a regulace

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2002

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceedings of the 6th World Multiconference on Systemics, Cybernetics and Informatics SCI 2002

  • ISBN

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    250-253

  • Název nakladatele

    SCI

  • Místo vydání

    Orlando

  • Místo konání akce

    Orlando

  • Datum konání akce

    14. 6. 2002

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku