A/D Switched-Current Converter with Built-In Self Testing Features

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F02%3APU29976" target="_blank" >RIV/00216305:26220/02:PU29976 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

A/D Switched-Current Converter with Built-In Self Testing Features

Popis výsledku v původním jazyce

Presented paper deals with the practical aspects of implementation of test circuitry into CMOS design of an analogue-to-digital converter. Properties of the structure of switched-current mode are discussed for design-for-test. Since the switched-currentstructure changes the mode of operation of current copiers (switched-current memory cell), large fault coverage can be reached if creating proper design-for-test. As the example, analysis of an A/D converter is used, designed in switched-current techniquue, when sampling data. The contribution aims at problems concerned with controllability and observability of internal nodes. The models developed were utilized and SPICE simulations performed to verify theoretical proposals.

Název v anglickém jazyce

A/D Switched-Current Converter with Built-In Self Testing Features

Popis výsledku anglicky

Presented paper deals with the practical aspects of implementation of test circuitry into CMOS design of an analogue-to-digital converter. Properties of the structure of switched-current mode are discussed for design-for-test. Since the switched-currentstructure changes the mode of operation of current copiers (switched-current memory cell), large fault coverage can be reached if creating proper design-for-test. As the example, analysis of an A/D converter is used, designed in switched-current techniquue, when sampling data. The contribution aims at problems concerned with controllability and observability of internal nodes. The models developed were utilized and SPICE simulations performed to verify theoretical proposals.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JB - Senzory, čidla, měření a regulace

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2002

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of the 6th World Multiconference on Systemics, Cybernetics and Informatics SCI 2002

ISBN

—

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

250-253

Název nakladatele

SCI

Místo vydání

Orlando

Místo konání akce

Orlando

Datum konání akce

14. 6. 2002

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—