Effect of Contact Electrode on Noise and Nonlinearity of Thick-Film Resistor.
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F02%3APU30273" target="_blank" >RIV/00216305:26220/02:PU30273 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Effect of Contact Electrode on Noise and Nonlinearity of Thick-Film Resistor.
Popis výsledku v původním jazyce
The noise spectroscopy measurement and third harmonic testing was used to investigate effect of the contact electrode geometry and material composition on the thick film resistor quality. It was proved experimentally that noise spectral density is proportional to electric field intensity, while third harmonic voltage depends on the third power of electric field intensity or current density. Modelling of the current distribution for two different shapes of metallic contact cross sections was performed. TThe electrode geometry plays dominant role for current distribution. The lower value of metallic contact angle, the higher current density peak appears in the vicinity of the contact edge.
Název v anglickém jazyce
Effect of Contact Electrode on Noise and Nonlinearity of Thick-Film Resistor.
Popis výsledku anglicky
The noise spectroscopy measurement and third harmonic testing was used to investigate effect of the contact electrode geometry and material composition on the thick film resistor quality. It was proved experimentally that noise spectral density is proportional to electric field intensity, while third harmonic voltage depends on the third power of electric field intensity or current density. Modelling of the current distribution for two different shapes of metallic contact cross sections was performed. TThe electrode geometry plays dominant role for current distribution. The lower value of metallic contact angle, the higher current density peak appears in the vicinity of the contact edge.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/ME%20244" target="_blank" >ME 244: Stanovení kvality a spolehlivosti tlustovrstvových rezistorů cumovou spektroskopií</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2002
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proc. of 16th Symp. CARTS Europe 2002
ISBN
0887-7491
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
171-175
Název nakladatele
Neuveden
Místo vydání
Nice, France
Místo konání akce
Port St. Laurent, Francie
Datum konání akce
14. 10. 2002
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—