Influence od Contact Electrode on Thick Film Resistors Noice and Nonlinerity

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F02%3APU30294" target="_blank" >RIV/00216305:26220/02:PU30294 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Influence od Contact Electrode on Thick Film Resistors Noice and Nonlinerity

Popis výsledku v původním jazyce

The noise spectroscopy measurement and third harmonic testing was used to investigate effect of the contact electrode geometry and material composition on the thick film resistor quality. It was proved experimentally that noise spectral density is proportional to electric field intensity, while third harmonic voltage depends on the third power of electric field intensity or current density. Modelling of the current distribution for two different shapes of metallic contact cross sections was performed. TThe electrode geometry plays dominant role for current distribution. The lower value of metallic contact angle, the higher current density peak appears in the vicinity of the contact edge. Effect of cracks, which are found near the contact electrode, also play important role in current distribution, noise sources and non-linearity.

Název v anglickém jazyce

Influence od Contact Electrode on Thick Film Resistors Noice and Nonlinerity

Popis výsledku anglicky

The noise spectroscopy measurement and third harmonic testing was used to investigate effect of the contact electrode geometry and material composition on the thick film resistor quality. It was proved experimentally that noise spectral density is proportional to electric field intensity, while third harmonic voltage depends on the third power of electric field intensity or current density. Modelling of the current distribution for two different shapes of metallic contact cross sections was performed. TThe electrode geometry plays dominant role for current distribution. The lower value of metallic contact angle, the higher current density peak appears in the vicinity of the contact edge. Effect of cracks, which are found near the contact electrode, also play important role in current distribution, noise sources and non-linearity.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/ME%20244" target="_blank" >ME 244: Stanovení kvality a spolehlivosti tlustovrstvových rezistorů cumovou spektroskopií</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2002

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proc. of 38th International Conference on Microelectronics, Devices and Materials

ISBN

961-91023-0-4

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

7

Strana od-do

245-251

Název nakladatele

Neuveden

Místo vydání

Lipica, Slonenia

Místo konání akce

Lipica

Datum konání akce

9. 10. 2002

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—