Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Current density distribution, noise and non-linearity of thick film resistors

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F03%3APU40392" target="_blank" >RIV/00216305:26220/03:PU40392 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Current density distribution, noise and non-linearity of thick film resistors

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The noise spectroscopy and third harmonic measurements were used to investigate effect of the contact electrode material on the thick film resistor quality and reliability. Strong dependence of nonlinearity on the contact electrode material wasobserved.Thick film resistors with AgPd contactelectrode have higher value of third harmonic voltage,but show better long term stability and reliabilitycomparing with resistors with Ag contact electrode.From the SEM figures we determined, that the sharpness of AggPd contact electrode is approximately 7deg, while Ag contact electrode sharpness is approx. 12deg. It was proved experimentally that noise spectraldensity is proportional to electric field intensity, whilethird harmonic voltage depends on the third power ofelectric field intensity or current density. Modelling ofthe current distribution for two different shapes of metallic contact cross sections was performed. The model shows that the electrode geometry plays dominant role for current d

  • Název v anglickém jazyce

    Current density distribution, noise and non-linearity of thick film resistors

  • Popis výsledku anglicky

    The noise spectroscopy and third harmonic measurements were used to investigate effect of the contact electrode material on the thick film resistor quality and reliability. Strong dependence of nonlinearity on the contact electrode material wasobserved.Thick film resistors with AgPd contactelectrode have higher value of third harmonic voltage,but show better long term stability and reliabilitycomparing with resistors with Ag contact electrode.From the SEM figures we determined, that the sharpness of AggPd contact electrode is approximately 7deg, while Ag contact electrode sharpness is approx. 12deg. It was proved experimentally that noise spectraldensity is proportional to electric field intensity, whilethird harmonic voltage depends on the third power ofelectric field intensity or current density. Modelling ofthe current distribution for two different shapes of metallic contact cross sections was performed. The model shows that the electrode geometry plays dominant role for current d

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2003

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Capacitor and Resistor Technology

  • ISSN

    0887-7491

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    2003

  • Číslo periodika v rámci svazku

    4

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

    112-116

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus