TCAD Tools in Device Characterization and Parameter Extraction

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F02%3APU30434" target="_blank" >RIV/00216305:26220/02:PU30434 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

TCAD Tools in Device Characterization and Parameter Extraction

Popis výsledku v původním jazyce

Simulation based (process-device) extraction methodology brings advantages both in cost savings and in reducing time-to-market. Instead of enduring the high cost and long time required for silicon fabrication, device designers obtain almost immediately the SPICE model parameters that result from "what if" process change analysis. This provokes a constantly growing need for complete device characterization and parameter extraction on the basis of simulated data provided by process and device simulators.Parameter extractors are those tools that link process-device simulation to circuit simulation and the main goal is to extract device model parameter values from front-end technological parameters. At present the exploitation of the integrated TCAD toolsto solve this problem is under study. The approaches to integrate process, device and circuit simulation TCAD tools are reviewed and examples of parameter extractors of leading TCAD vendors are presented.

Název v anglickém jazyce

TCAD Tools in Device Characterization and Parameter Extraction

Popis výsledku anglicky

Simulation based (process-device) extraction methodology brings advantages both in cost savings and in reducing time-to-market. Instead of enduring the high cost and long time required for silicon fabrication, device designers obtain almost immediately the SPICE model parameters that result from "what if" process change analysis. This provokes a constantly growing need for complete device characterization and parameter extraction on the basis of simulated data provided by process and device simulators.Parameter extractors are those tools that link process-device simulation to circuit simulation and the main goal is to extract device model parameter values from front-end technological parameters. At present the exploitation of the integrated TCAD toolsto solve this problem is under study. The approaches to integrate process, device and circuit simulation TCAD tools are reviewed and examples of parameter extractors of leading TCAD vendors are presented.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2002

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Socrates Workshop 2002 - Proceedings. Intensive Training Programme in Electronic System Design

ISBN

80-214-2217-3

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

132-137

Název nakladatele

Ing. Z. Novotný, Brno 2002

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

Chania, Crete

Datum konání akce

2. 9. 2002

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—